- All
- LED產業應用
- ALN
- Flip Chip Ag
- ITO
- ODR Ag reflect layer
- Metal (Multilayer)
ALN
ALN膜層特性
- 提昇亮度
- 縮短GaN成長時間
- 磊晶工藝範圍變寬,提升良率
友威的優勢
- 真空高溫技術
- 歐美品質,國產價格
- 提供ALN鍍膜代工服務
- 品質監控,量測Lab:d.n.k,α-STEP,XRD,AFM,光譜儀,應力量測
Flip Chip Ag
設備規格
- 工作尺寸: 420mm x 650mm
- 機台尺寸: L 3.5M x W 2.2M x H 2.3M
- 產能: 2” 300K/Mon
- 計算基礎: 24hr/26Day
設備特色
- 全系統可搭配2”, 4”, 6”治具生產
- 超低溫高速成膜
- Lowdamage Ag複合層
- Grain小反射率高
- Foot plant占地小
- 磁性流體傳動導入
- 全機無油設計
- 快速換靶機構
設備規格
- 工作尺寸: 420mm x 650mm
- 機台尺寸: L 4.8M x W 2.3M x H 1.85M
- 產能: 2” 45K/Mon
- 產能: 4” 10K/Mon
- 計算基礎: 24hr/26Day
設備特色
- 全系統可搭配2”, 4”, 6”治具生產
- 超低溫高速成膜
- Lowdamage Ag複合層
- 超緻密膜Ag複合層
- Grain小反射率高
- 磁性流體傳動導入
- 全機無油設計
- 快速換靶機構
ITO
設備規格
- 工作尺寸: 350mm x 350mm
- 機台尺寸: L 4.2M x W 2.5M x H 2.4M
- 產能: Kioth-I100 2” 116K/Mon
- 產能: Kioth-I200 2” 230K/Mon
- 計算基礎: 24hr/26Day
設備特色
- 全系統可搭配2”, 4”, 6”治具生產
- MMC Cathode 搭載自動翻轉
- Sputter 膜可控制較小Grain
- ITO薄膜緻密性高、穿透率高
- Sputter Multi ITO薄膜結構設計
- Cathode I : Super Low Damage、薄膜
- Cathode II : Low Damage、極薄膜、高速成膜
- 磁性流體傳動導入
- 全機無油設計
ODR Ag reflect layer
設備規格
- 工作尺寸: 300mm x 300mm
- 機台尺寸: L 4.8M x W 1.8M
- 產能: UHS-20503C4 2” 78K/Mon
- 計算基礎: 22hr/26Day
設備特色
- 全系統可搭配2”, 4”, 6”治具生產
- 連續式濺鍍系統
- 上掀式腔體門方便保養
- 自動回流系統、可整合自動化
- Sputter薄膜均勻穩定
- Ag薄膜緻密性高、反射率>91%
- Ag Reflect薄膜疊構設計
- 全機磁性流體傳動導入
Metal (Multilayer)
設備規格
- 工作尺寸: 250mm x 250mm x 10面
- 機台尺寸: L 3.5M x W 2.2M x H 2.6M
- 產能: UFE-11005P2 2” 63K/Mon
- 計算基礎: 24hr/26Day
設備特色
- 全系統可搭配2”, 4”, 6”治具生產
- 針對多層薄膜、厚膜設計
- Low Damage磁控濺鍍系統
- 極薄膜沉積、均勻穩定
- 低溫成膜、製程溫度監控
- 模組化設計方便保養
- 可整合自動化上下料系統
- 多層金屬膜推力>50g
產品應用類別